HIOKI LCR Meter - TestLA特試測量儀器體驗中心

●測量頻率 4 Hz ~ 5M Hz
●一台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
●LCR模式下最快1.5 ms（1k Hz），0.5 ms（100 kHz）的高速測量
●基本精度 ±0.08 % 的高精度測量
●適用於無線充電評價系統 TS2400

●DC，測量頻率 4 Hz ~ 8M Hz
●測量時間：最快1ms
●基本精度：±0.05% rdg
●1 mΩ 以上的精度保證範圍

●測量頻率：1M Hz ~ 600M Hz
●測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
●基本精度：±0.65% rdg.
●測量方式 : RF I-V法

●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40 Hz～200k Hz，5 mV～5 V，10 μA～50 mA)
●在 C-D 和 ESR 的混合測量條件下不間斷測試
●內建比較器和BIN功能
●2 ms 的快速測試時間

●測試電壓測量頻率：1M Hz ~ 3G Hz
●測量時間：最快 0.5 ms
●測量值偏差：0.07%
●基本精度：±0.65% rdg.
●測量方式 : RF I-V法

●測量頻率：1m Hz ~ 200 kHz
●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC，40 Hz～200 kHz，5 mV～5 V，10 μA～50 mA)
●除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置
●內建比較器和 BIN 功能
●2 ms 的快速測試時間

●適用於離子運動和溶液電阻測量，1m Hz ～ 200 kHz的寬範圍信號源
●一台機器即可實現 LCR 測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
●最快 2ms 的高速測量，實現掃描測量的高速化
●適用於 Cole-Cole 圖、等效電路分析的化學零件和材料的電阻(LCR)測量

SMD 治具

●IM7580 系列專用 SMD 測試夾具
●測試頻率 600M Hz
●適用於各種形狀和尺寸的元件，可進行高頻阻抗測量
●可測元件尺寸：帶引腳的元件、SMD（貼片元件）

●IM7580 系列專用 SMD 測試治具
●DC 至 3G Hz
●可對應 6 種尺寸的 SMD
●對應 SMD 尺寸※1 0603、1005、1608、2012、3216、3225
※1：JIS單位mm，相當於EIA0201～EIA1210尺寸